數(shù)字示波器電源噪聲測量中的陷阱分析之RF干擾-云帆興燁
當前的電路和系統(tǒng)使用1.2V甚至更低的供電電壓運行,即使微小的電壓變化也會產(chǎn)生誤碼、抖動、錯誤切換以及與瞬態(tài)相關的問題,非常難以解決。
測量供電電壓上的噪聲似乎是一項非常簡單的工作,然而,存在一些測試陷阱可能會導致測量結(jié)果錯誤。今天讓我們來分析噪聲測量中經(jīng)常面度的一個挑戰(zhàn):RF干擾。我們將展示RF干擾對電源噪聲測量的影響,并介紹一種有效的減輕這種影響的方法。
但在我們討論這個問題之前,讓我們先去了解示波器的功能和限制,有了這些知識,可以更好地預測產(chǎn)生的測量結(jié)果。
如果我們談論噪聲測量,特別是測試低電平信號的噪聲時,我們首先要知道數(shù)字示波器的本底噪聲。前端放大器產(chǎn)生多少固有噪聲?圖1中力科HDO8108A的噪音極低,約為145μV。
以力科HDO8108A數(shù)字示波器(圖1)為例,該示波器提供1 GHz帶寬,8個模擬輸入通道和12位垂直分辨率。它也是我們接下來用于測量演示的工具。可以通過簡單地將輸入通道接地來觀察儀器的內(nèi)部放大器噪聲,結(jié)果如圖2所示,受益于HDO的垂直分辨率,我們可以獲得非常精確的測量結(jié)果。
還要記住,有多種方式可以用來度量噪聲:RMS值和標準偏差(圖3),前者包含DC偏置,而后者在計算RMS之前從每個測量電壓中減去平均值(平方和的平方根),因此,標準偏差是噪聲變化的更真實的度量。
從圖3中得知圖2中測試到的示波器本底噪聲的標準偏差是145 μV, 現(xiàn)在我們已經(jīng)了解了HDO8108A在噪聲測量方面的能力。
現(xiàn)在,讓我們做一個最簡單的電源電壓測量實驗:1.5 V電池。考慮到電池內(nèi)發(fā)生的電化學反應,以及由于探測引起的一點電流消耗,我們預測電壓可能會有一些噪聲。我們將電池放在一個盒子中,將引線連接到它,然后將它們連接到示波器中,屏幕上的結(jié)果令人驚訝(圖4)。
在圖4的頂部是測量到的電池噪聲(粉紅色,Ch2),下面是作參考的示波器本底噪聲(黃色,Ch1),兩者使用相同的垂直標度,可以看到電池電壓噪聲很大,比我們預期的要大很多。測量的平均電壓為1.56 V,Sdev:3mV ,噪聲峰峰值為33 mV。
不僅如此,而且噪聲中似乎還有一些相當高頻的成分,并且具有某種周期性。我們將示波器的水平時基設置為20μV/ div,設置采樣率為最大10 GS / s。確保捕獲示波器能夠捕獲的所有高頻信息。
使用HDO8108A數(shù)字示波器的頻譜分析功能,可以進行相互確認,即在頻域中查看此信號(圖5)。從頂部的全頻譜圖可以看出,噪聲頻帶確實是非常寬,到了示波器的1 GHz全帶寬,還沒有任何消失的跡象。
圖5的底部是頻譜的前100 MHz的放大圖,噪聲中有明顯的峰值,它幾乎從15 MHz開始,接著是30 MHz,45 MHz,依此類推,這無疑是電池信號上的人為RF噪聲。
還要注意,頻譜分析中顯示出的奇怪現(xiàn)象:偶次諧波,這只有在噪聲源失真的情況下才會發(fā)生,波形在一個周期內(nèi)反對稱。因此,我們的噪聲源可能是占空比失真的時鐘,或者其脈沖中的上升和下降時間不對稱,但是高次諧波比1 / f下降得更慢,噪聲源可能更像是一堆脈沖。
因此,明顯的補救措施是為1.5V電池提供一些屏蔽, 在將其小心地包裹在鋁箔中之后,重復測量,結(jié)果發(fā)現(xiàn)噪聲頻譜與第一次測量的噪聲頻譜幾乎完全相同。
我們仔細觀察屏蔽電池和外殼,注意到:只有同軸電纜的中心導體與箔片接觸,同軸電纜的屏蔽層沒有,它是浮著的。當然,只有屏蔽連接到儀器的返回路徑,屏蔽才真正有效。由于這個同軸電纜屏蔽層與電池周圍的箔片斷開,因此RF噪聲不會被屏蔽,將完全被傳輸?shù)叫盘柧€。
所以再試一次,這次將同軸電纜的屏蔽層連接到鋁箔上,如圖6底部所示,差異是很明顯的。噪聲從-60 dBm變?yōu)?100 dBm,相當于減少了4倍。
作為最后的確認,將正確屏蔽的電池噪聲與示波器基底噪聲的測量結(jié)果進行比較(圖7)。那是Ch1(黃色)是示波器基底噪聲和Ch2(粉紅色)是電池噪聲,它們實際上是相同的,事實上,電池的噪聲要低于示波器的本底噪聲。