示波器統(tǒng)計(jì)工具協(xié)助可視化波形-云帆興燁
示波器統(tǒng)計(jì)工具協(xié)助可視化波形
可以使用統(tǒng)計(jì)工具協(xié)助以多種方式顯示噪聲信號(hào),在示波器的存儲(chǔ)器中疊加多次采集會(huì)產(chǎn)生余暉圖,它用于生成持久性顯示,顯示多次采集的歷史記錄。它還可以用于通過基于通過每個(gè)采樣點(diǎn)的垂直切片的統(tǒng)計(jì)分析來提取信號(hào)的平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差或范圍來分析波形。這些余暉圖功能的水平分辨率為10ps或等效采樣率為100GSample / s,如圖所示的例子。
圖6.采集的噪聲波形以及余暉圖平均值、余暉圖sigma和余暉圖范圍顯示了如何使用統(tǒng)計(jì)工具提供附加信息
最上面的波形是采集的原始波形,其上有大量的垂直噪聲,采用余暉圖均值或PMean數(shù)學(xué)函數(shù)將波形中的每個(gè)樣本替換為存儲(chǔ)在持久性存儲(chǔ)器中的許多波形上的該點(diǎn)的平均值。PMean(從上向下第二個(gè)波形)顯示出嘈雜波形中的隱藏細(xì)節(jié),可以使用任何其他測(cè)量參數(shù)或函數(shù)進(jìn)一步分析此曲線。從頂部開始的第三個(gè)波形是余暉圖sigma或PSigma,它顯示了與噪聲標(biāo)準(zhǔn)偏差相對(duì)應(yīng)的噪聲包絡(luò)或與零均值噪聲rms變化相對(duì)應(yīng)的噪聲包絡(luò)。它是信號(hào)值變化的極限,在平均水平的正負(fù)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差內(nèi),可以使用此類型的波形來創(chuàng)建Pass/Fail測(cè)試的模板。最下方的波形是余暉圖范圍或PRange,此函數(shù)繪制信號(hào)的包絡(luò)或范圍噪聲,顯示噪聲的最壞情況垂直偏移,同樣,它也可以用于生成通過/失敗測(cè)試模板。
更多計(jì)算直方圖的方法
直方圖表示測(cè)量參數(shù)或數(shù)據(jù)波形的分布,一些示波器可以基于余暉圖創(chuàng)建直方圖。這類直方圖的優(yōu)點(diǎn)是它可以查看波形中的特定點(diǎn),如圖7所示,上面的曲線顯示了基于通過噪聲方波高電平垂直切片的余暉直方圖,切片的水平位置和寬度由用戶控制。得到的直方圖表示垂直噪聲。下面的曲線是相同的波形,其余暉直方圖基于其中點(diǎn)的水平切片,得到的直方圖顯示邊沿時(shí)間的變化,與垂直切片的情況一樣,水平切片的垂直位置和寬度可以由用戶設(shè)置。
圖.余暉直方圖顯示了基于用戶可控切片的分布,可以使用標(biāo)準(zhǔn)直方圖參數(shù)來測(cè)量生成的直方圖
水平和垂直余暉直方圖都可以使用標(biāo)準(zhǔn)直方圖測(cè)量參數(shù)來測(cè)量,如圖中的測(cè)量參數(shù)P1-P6所示。示波器提供了大量基于統(tǒng)計(jì)的工具,可幫助分析采集的波形。幾乎每個(gè)示波器都提供平均和測(cè)量參數(shù)統(tǒng)計(jì)。直方圖、余暉圖和余暉直方圖通常是可選功能,本文使用的示波器是力科WaveMaster 8Zi-B,提供所有的分析工具,從噪聲中快速提取有用信息。